Home › Artikelen als PDF › 2000 › februari › Byte-generator

Byte-generator

voor het testen van DAC's en digitale besturingen

Gepubliceerd in Elektor nummer 436, februari 2000

Dit ontwerp werd oorspronkelijk in elkaar geknutseld om bij het testen van een DAC-prototype de digitale codes met de hand in te kunnen geven. Later werd de schakeling aangepast voor het testen van een optische schakelaar vanuit een open-collector-uitgang. Het definitieve ontwerp combineert de voordelen van beide.In het schema van figuur 1 is te zien dat SW1 een 8-voudige DIP-switch is, gemonteerd in een 16-pens IC-voet (hierover later meer). De gemeenschappelijke kant van de schakelaar is aan massa gelegd en de andere kant wordt met behulp van een 4k7-weerstandsarray (R1) naar +5 V getrokken. Deze kant van de DIP-switches wordt naar buiten gevoerd via de 20-polige connector K1 en tevens naar de ingangen van IC1 geleid. Voor laatstgenoemde is een als buffer geschakelde 74LS245 toegepast.

Componenten

Weerstanden:

R1 = 8 x 4k7 weerstand-array

R2 = 8 x 470 weerstand-array

IC’s:

IC1 = 74LS245 of 74HCT245

IC2 = ULN2801A

Diversen:

D1...D8 = high-efficiency-LED

K1 = 20-polige persconnector

K2 = 10-polige SIL-header

K3 = 11-polige SIL-header

K4 = 3-polige header met jumper

16-polig DIL-voetje met gedraaide contacten.

Klik hieronder om dit artikel en/of print layout te downloaden als PDF.